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NSG4070D-A400M-50射頻傳導抗擾度測試系統

簡要描述:NSG4070D-A400M-50射頻傳導抗擾度測試系統射頻傳導抗擾度測試系統作為一款解決方案,與較早型號相比,NSG 4070D 系列在測試精度、性能和多功能性等各方面都有極大的提升,旨在滿足汽車、醫療、工業和消費電子等行業各種嚴苛的測試要求。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-02-21
  • 訪  問  量:110

詳細介紹

品牌其他品牌應用領域電子,交通,汽車,電氣

NSG4070D-A400M-50射頻傳導抗擾度測試系統射頻傳導抗擾度測試系統

AMETEK CTS 非常高興地向廣大客戶發布 Teseq 品牌在 EMC抗擾度測試領域的全新產品——NSG 4070D 系列射頻傳導抗擾度測試系統


NSG4070D-A400M-50射頻傳導抗擾度測試系統


與較早型號相比,NSG 4070D 系列在測試精度、性能和多功能性等各方面都有極大的提升,旨在滿足汽車、醫療、工業和消費電子等行業各種嚴苛的測試要求。


NSG4070D-A400M-50射頻傳導抗擾度測試系統

主要特點



作為一款先進的一體化機解決方案,NSG 4070D 系列包括以下非常突出的特點:


集成了信號發生器

可以產生 4 kHz - 1 GHz 的正弦信號,輸出電平范圍為 -60 dBm 至 +10 dBm。


調制能力

支持抗擾度標準常用的幅度調制(AM)和脈沖調制(PM),可靈活根據標準設置調制參數。


信號源的輸出電平范圍更寬

提供 - 60dbm 至 + 10dbm 范圍內的輸出功率,帶來更大的靈活性,適應更加多樣化的測試條件。


內置了射頻功放模塊

提供了覆蓋不同頻率范圍和不同線性功率的多種功放模塊,滿足不同應用的需要。


支持外置功率放大器

還可集成外部的獨立的射頻功放以便構成系統,實現更寬的頻率范圍和/或更高的輸出功率,從而滿足擴展的測試要求。


靈活的外置設備切換功能

支持通過射頻開關例如 SW 4070 開關單元,方便切換外部設備和電流監測探頭例如 MD 4070 等設備。


內置了多達 5 路的功率測量單元

3 路外部測量、2 路內部測量,可以輕松實現對內部的功放模塊或者外部功放的前向和反向功率、電流等參數的測量。


EUT 監測能力

標配對被測物 EUT 的監測功能,可以通過數字 TTL 輸入端口、24 V 數字輸入端口和光纖輸入端口來完成。此外,它可以監測高達 24 V 的模擬電壓,精度為 6 mV,可以確保對設備性能的全面評估。


廣泛的應用范圍

可覆蓋廣泛的不同行業的標準,適用于汽車、醫療、軍標、工業設備和消費電子產品。


主要變化



與以前的 NSG 4070 系列相比,我們對新的 NSG 4070D 系列進行了顯著的改進和提升。

AMETEK 全新設計

對主要部件進行了全面的重新設計,提高了整體產品的性能和可靠性。


重新定義了內置的功率模塊的可選型號

提供四種功率模塊,滿足不同的測試需求。


NSG4070D-A400M-50射頻傳導抗擾度測試系統


3U 高度的緊湊型設計

所有型號均只有 3U 的機箱高度,不但適合實驗室使用,還可便攜到外場測試。


當代風格的操作界面

全新的用戶界面,設計更精簡、直觀,操作更容易,帶來用戶體驗的提升。


支持低頻磁場抗擾度測試

其中兩個型號可支持 IEC 61000-4-39 的低頻磁場抗擾度測試。


可直接調用的相關標準的測試

已經編好相關的測試程序,直接調用即可,涵蓋工業、汽車、和航空電子測試的主要應用。


插入損耗測量功能

為測量無源器件的插入損耗提供了專用的測量功能。




NSG 4070D 系列的發布,旨在增強了產品的性能和功能,可靠性,標準的覆蓋范圍,用戶操作使用的方便性,專為滿足用戶不斷變化的需求而設計。












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